低電壓雷擊浪涌測(cè)試系統(tǒng)


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>測(cè)試量級(jí):
1.2/50-8/20us組合波
開路電壓:5~660V±10%
輸出阻抗:2Ω、12Ω
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>適用標(biāo)準(zhǔn):
IEC 61000-4-5
GB/T 17626.5
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>應(yīng)用:
用于模擬由于熱插拔和EOS引起的浪涌沖擊抗干擾測(cè)試,適用于消費(fèi)電子和通訊等領(lǐng)域的浪涌測(cè)試需求。


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>測(cè)試量級(jí):
8/20μs電流波
源輸出阻抗:500Ω(1~10A)
源輸出阻抗:50Ω(11~120A)
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>適用標(biāo)準(zhǔn):
IEC 61643-1
GB/T 18802.1
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>應(yīng)用:
用于測(cè)試元器件通流能力、USB端口電源浪涌等,適用于消費(fèi)電子和通訊等領(lǐng)域的浪涌測(cè)試需求。